Ytanalys med röntgenfotoelektronspektroskopi, 3.0 hp

Behörighetskrav

Grundläggande behörighet till kurser på forskarutbildningsnivå har den som har

• avlagt en examen på avancerad nivå,
• fullgjort kursfordringar om minst 240 högskolepoäng (hp), varav minst 60 hp på avancerad nivå, eller på något annat sätt förvärvat motsvarande kunskaper.

Lärandemål

Efter avslutad kurs förväntas* *studenten kunna:

• en omfattande förståelse av XPS
• goda kunskaper om involverade teoretiska aspekter
• systematisk kunskap om nuvarande praxis vid analys av ytor;
• kunskap om den använda analysutrustningen;
• förstå teori och praktik för ytanalys av XPS
• förstå och tolka resultat som erhållits med XPS
• utföra XPS-dataanalys
• få goda färdigheter i att arbeta med programvaran CasaXPS
• uppskatta XPS-teknikens möjligheter och begränsningar
• kunna kritiskt bedöma forskning där XPS har tillämpats

Kursinnehåll

• Introduktion till fotoelektronspektroskopi I: Grundläggande principer
• Introduktion till fotoelektronspektroskopi II: Kemisk information
• Instrumentering
• Ytanalys av polymerer
• Ytanalys av oorganiska system
• Kompletterande analytiska tekniker
• Sputterdjupsprofilering
• Icke - destruktiv djupprofilering
• Kvalitativ och kvantitativ analys
• Spektraltolkning
• Artefakter
• Applikationsexempel
• Provberedning
• Senaste framstegen inom ytanalys

Undervisnings- och arbetsformer

Kursen består av 10 h föreläsningar + 6 h laborationer. Det förväntas att studenter tillbringar extra tid för självstudiervisnings- och arbetsformer

Examination

Examinationen är i form av:

(i) labbrapport och presentation av individuella projekt - studenterna ska utföra en noggrann karakterisering med XPS av ett eget prov och presentera en fullständig skriftlig labbrapport. Rapporten betygsätts (godkänd/underkänd) av examinator.

(ii) skriftliga lösningar på problem som kommer att delas ut under föreläsningarna

Omtentamen: om studenter råkar missa laborationsdelen som är den viktigaste har de möjlighet att gå med i en annan grupp.

Student som inte uppnått godkänt resultat erbjuds ett tillfälle till omexamination i anslutning till kursen. Därefter erbjuds deltagande i examination vid senare kurstillfälle. Omfattningen vid omexamination skall vara densamma som vid ordinarie examination.

Betygsskala

Kurslitteratur

Surface Analysis by Auger and X-ray Photoelectron Spectroscopy edited by D. Briggs and J.T. Grant

Föreläsningar kommer också att finnas tillgängliga för studenter i elektronisk form.

Kompletterande läsning:

• Photoelectron Spectroscopy: Principles and Applications by Stefan Hufner
• Auger- and X-ray Photoelectron Spectroscopy in Materials Science by Siegfried Hofmann

Övrig information

Kursen anordnas vartannat år om det finns tillräckligt stort intresse från studenter (minst 6 intresserade studenter)

Planering och genomförande av kursen skall utgå från kursplanens formuleringar. Kursvärdering samt analys och förslag som rör generell utveckling och förbättring av kursen återkopplas till Forsknings- och forskarutbildningsnämnden av kursansvarig lärare.